TY - JOUR TI - Identifying competitive interaction of patterns in software product lines PB - Universidad de Santiago de Cali, Facultad de Ingeniería, Facultad de Ciencias Básicas PY - 2015 issn 1692-0899 AB - Los patrones de diseño para empresas (tales como los patrones JEE) pueden ser usados para promover Atributos de Calidad [Quality Attributes, QA] como funcionalidades cuando se derivan en una línea de productos software [Software Product Line, SPL]. Uno de los aspectos encontrados en la derivación de productos es la interacción de fragmentos de código generados por la aplicación de patrones. Esta interacción puede ser colaborativa o de competitiva. Cuando es competitiva, las relaciones pueden ser adaptables o excluyentes. En ambos casos, los diferentes enfoques (e.g., la composición patrón, el patrón de sustitución, el razonamiento de restricción) se pueden usar para abordar el problema. Sin embargo, la identificación y predicción temprana de estas interacciones puede ser útil para desarrollar estrategias adecuadas. Este trabajo explora e identifica las interacciones usando dos repositorios base: QAs de un reconocido estándar y patrones de un catálogo. Se muestran dos casos de interacción funcional, cuando se promueven niveles específicos de QA en una aplicación empresarial [SPL].

KW - Command and control system KW - Telecommunication KW - Hardware KW - Automatización y sistemas de control KW - Telecomunicaciones KW - Hardware y arquitectura de computadores UR - http://hdl.handle.net/10906/81881 ER -